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描述：美國OXYSENSE X-325i 微頂空殘氧/溶氧分析儀X-325i 是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設備是基于光學(xué)感應的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過(guò)程不對樣品進(jìn)行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無(wú)要求，Z小樣氣量?jì)H需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。
產(chǎn)品型號：X-325i廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-03-15訪(fǎng)問(wèn)量：7000標題：美國OXYSENSE X-325i 微頂空殘氧/溶氧分析儀
產(chǎn)品概述
美國OXYSENSE X-325i 微頂空殘氧/溶氧分析儀 美國OXYSENSE X-325i 微頂空殘氧/溶氧分析儀
美國OXYSENSE 微頂空殘氧/溶氧分析儀
安瓿瓶、西林瓶、輸液瓶/袋、卡式瓶等頂空殘氧/溶解氧分析
品 牌：OXYSENSE
行 業(yè)：制藥
檢 測 項 目：頂空殘氧/溶解氧
型號：X-325i
X-325i 是一款常用于制藥行業(yè)集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設備是基于光學(xué)感應的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過(guò)程不對樣品進(jìn)行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無(wú)要求，zui小樣氣量?jì)H需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統方法 諸如電化學(xué)、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。
使用熒光法特質(zhì)的熒光貼片OXYDOT ，可以實(shí)現無(wú)損檢測分析，應用于長(cháng)期的包裝穩定性研究。也可應用于溶液配液罐頂空殘氧分析。
特征：
● 零樣氣消耗，只需要極少的樣氣量，zui少0.1ml
● 可實(shí)現對頂空氧及液體溶解氧同時(shí)分析檢測
● 自動(dòng)生成數據隨時(shí)間變化曲線(xiàn)
● 內置溫度和壓力補償
● 支持無(wú)損檢測分析，實(shí)現留樣分析
● 傳感器免維護，無(wú)需更換
● 設備零維護，*
● 數據自動(dòng)無(wú)限儲存，PDF導出
詳細技術(shù)參數資料，請咨詢(xún)我們！
業(yè)務(wù)：*
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